摘要：

目的 驗(yàn)證和探討4種常用輻射檢測(cè)儀器（6150AD6+6150AD-b型劑量?jī)x、FH40G+FHZ672E-10型劑量?jī)x、451P型電離室劑量?jī)x和AT1123型劑量?jī)x）的時(shí)間響應(yīng)修正方法。

方法 在X射線照射持續(xù)時(shí)間為500、200、100和50 ms情況下，記錄儀器顯示周圍劑量當(dāng)量率；根據(jù)電阻R和電容C串聯(lián)電路（RC電路）的時(shí)間響應(yīng)修正公式對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行時(shí)間響應(yīng)修正。

結(jié)果 AT1123型劑量?jī)x測(cè)量值與照射持續(xù)時(shí)間沒有相關(guān)性，其他3種劑量?jī)x測(cè)量值隨照射時(shí)間變化明顯。

結(jié)論 AT1123型劑量?jī)x測(cè)量值可以不進(jìn)行時(shí)間響應(yīng)修正，其他3種劑量?jī)x測(cè)量值可通過時(shí)間響應(yīng)修正公式進(jìn)行修正。源PDF下載鏈接

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輻射防護(hù)檢測(cè)中經(jīng)常需要檢測(cè)射線照射持續(xù)時(shí)間短（ms - s的量級(jí)，甚至ns - ms量級(jí)）的X射線裝置所在工作場(chǎng)所。療診斷中的計(jì)算機(jī)X射線攝影（CR）和數(shù)字X射線攝影（DR）以及介入放射學(xué)使用的射線裝置在攝影模式時(shí)單次照射時(shí)間在ms - s量級(jí)，工業(yè)應(yīng)用中的脈沖X射線機(jī)的單次照射時(shí)間甚至可達(dá)ns - ms量級(jí)。為了得到準(zhǔn)確的檢測(cè)結(jié)果，在射線照射持續(xù)時(shí)間短的情況下進(jìn)行檢測(cè)，應(yīng)選擇響應(yīng)時(shí)間小于射線照射時(shí)間的儀器，否則需要對(duì)儀器測(cè)量值進(jìn)行響應(yīng)修正。按照經(jīng)典的電子學(xué)理論，對(duì)于電阻R和電容C組成的串聯(lián)電路（RC電路）有時(shí)間響應(yīng)的修正公式,電離室型儀表測(cè)量結(jié)果經(jīng)修正后才能用于判斷被檢測(cè)工作場(chǎng)所的輻射水平是否滿足國(guó)關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求。目前,輻射檢測(cè)儀器時(shí)間響應(yīng)修正方法尚無定論,因此對(duì)輻射檢測(cè)儀器時(shí)間的研究非常必要。本研究使用輻射防護(hù)檢測(cè)中用的4種類型檢測(cè)設(shè)備,在照射持續(xù)時(shí)間為50 - 500ms的情形下進(jìn)行測(cè)量,并使用時(shí)間響應(yīng)修正公式對(duì)儀器測(cè)量值進(jìn)行修正及探討,將有助于推動(dòng)常用輻射檢測(cè)儀器時(shí)間響應(yīng)修正方法的合理應(yīng)用。

材料與方法

1.測(cè)量對(duì)象:4種類型的劑量?jī)x分別為德國(guó)Automess公司生產(chǎn)的6150AD6+6150AD-b型劑量?jī)x、美國(guó)Thermo公司生產(chǎn)的FH40G+FHZ672E-10型劑量?jī)x、美國(guó)Fluke公司生產(chǎn)的451P型電離室劑量?jī)x和白俄羅斯ATOMTEX生產(chǎn)的AT1123型劑量?jī)x。

2.儀器:美國(guó)GE公司生產(chǎn)的Brio型用X射線攝影設(shè)備。

3.測(cè)量方法:Ⅹ射線機(jī)工作電壓80kV,電流200mA,照射持續(xù)時(shí)間分別設(shè)置為500、200、100和50ms,照射后記錄防護(hù)門外30cm處各劑量?jī)x顯示的周圍劑量當(dāng)量率*大值,該值乘以儀器校準(zhǔn)因子得到測(cè)量的周圍劑量當(dāng)量率。對(duì)于電離室型劑量?jī)x,其RC電路時(shí)間修正公式為：

D（t）=h(1-e^-t/τ)

式中,D(t)為t時(shí)刻儀器測(cè)量的周圍劑量當(dāng)量率,μSv/h;h為輻射場(chǎng)所實(shí)際的周圍劑量當(dāng)量率,μSv/h;t為時(shí)間,s;τ為RC電路的時(shí)間常數(shù),s,儀器響應(yīng)時(shí)間為2.197τ。

4.質(zhì)量控制:4種類型的劑量?jī)x均經(jīng)過中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院的檢定或校準(zhǔn),測(cè)量時(shí)均在檢定或校準(zhǔn)的有效期內(nèi)。

結(jié)果

1.AT1123型劑量?jī)x:AT1123型劑量?jī)x在短時(shí)間測(cè)量模式下(>30ms)測(cè)量值隨著照射持續(xù)時(shí)間的變化見表1。相同照射時(shí)間條件下多次測(cè)量時(shí),各樣本相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差均<13%。對(duì)50~500ms測(cè)量的所有9個(gè)測(cè)量值,樣本相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差均<10%。本次測(cè)量是在AT1123型劑量?jī)x選擇短時(shí)間測(cè)量模式下進(jìn)行的,儀器測(cè)量值與照射持續(xù)時(shí)間沒有相關(guān)性,其測(cè)量結(jié)果可以不進(jìn)行時(shí)間響應(yīng)修正,這與儀器說明書是一致的。

2.451P型電離室劑量?jī)x、6150AD6+6150AD-b型劑量?jī)x和FH40G+FHZ672E-10型劑量?jī)x:3種劑量?jī)x測(cè)量值列于表2~4,表中數(shù)據(jù)已扣除本底。表2中測(cè)量值變化范圍為0.47~5.07μSv/h,表3中測(cè)量值變化范圍為0.53~5.20μSv/h,表4中測(cè)量值變化范圍為0.64~7.76μSv/h,這3種設(shè)備的測(cè)量值隨照射持續(xù)時(shí)間變化明顯,同一儀器不同照射時(shí)間時(shí),其測(cè)量值差別可達(dá)一個(gè)量級(jí);與ATl123的顯示平均值比較差別接近兩個(gè)量級(jí)。但相同照射時(shí)間條件下多次測(cè)量時(shí),樣本的標(biāo)準(zhǔn)偏差較小相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差均<10%。

3.時(shí)于間響應(yīng)修正結(jié)果:選取AT1123型照射持續(xù)時(shí)間*長(zhǎng)(500ms)的測(cè)量值(41.4μSv/h)作為

公式(1)中輻射場(chǎng)所實(shí)際的周圍劑量當(dāng)量率h的值;需要指出6150AD6+6150AD-b型劑量?jī)x和FH40G+FHZ672E-10型劑量?jī)x為塑料閃爍體型探測(cè),本研究也使用公式(1)進(jìn)行修正,探索其可行性。對(duì)451P型電離室劑量?jī)x、6150AD6+6150AD-b型劑量?jī)x和FH40G+FHZ672E-10型劑量?jī)x同時(shí)選500ms時(shí)測(cè)量值(5.07、5.20和7.76μSv/h)分別作為D(τ)代入公式(1),可以求出τ,分別為3.82、3.72和2.41s。然后使用計(jì)算得到τ值和公式(1)對(duì)儀器測(cè)量值進(jìn)行修正,修正值列于表5。從表5可以看出,3種劑量?jī)x的修正值與h值